Nanometrología
metrología de materiales / De Wikipedia, la enciclopedia encyclopedia
La nanometrología es un subcampo de la metrología que se ocupa de la ciencia de la medición a escala nanométrica. La nanometrología desempeña un papel crucial para producir nanomateriales y dispositivos con un alto grado de precisión y fiabilidad en la nanofabricación.
Uno de los retos en este campo es desarrollar o crear nuevas técnicas y normas de medición para satisfacer las necesidades de la fabricación avanzada de próxima generación, que se basará en materiales y tecnologías a escala nanométrica. Las necesidades de medición y caracterización de las nuevas estructuras y características de las muestras superan con creces las capacidades de la ciencia de la medición actual. Los avances previstos en las industrias nanotecnológicas emergentes de EE. UU. exigirán una metrología revolucionaria con una resolución y una precisión mayores de lo que se había previsto hasta ahora.[1]