Microscope à contraste interférentiel
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Le microscope à contraste interférentiel est un microscope qui exploite les interférences de deux faisceaux d'une onde lumineuse traversant un échantillon.
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Il existe plusieurs techniques de contraste interférentiel en microscopie, qu'on peut classer en deux grands groupes, selon le trajet des faisceaux lumineux :
- un des faisceaux lumineux ne traverse pas l'objet et sert de référence (KRUG, LAU, objectif de MIRAU, de WATSON...). Cette technique impose des microscopes à statif spécial qui ne se rencontrent plus qu'en métallographie ;
- les deux faisceaux lumineux traversent l'objet (FRANCON, JAMIN/LEBEDEFF, SMITH, NOMARSKI, PLUTA...), parmi lesquels on distingue :
- les microscopes d’interférométrie à large dédoublement (CI Shearing, interféromètres à franges d'interférences) qui sont destinés à des mesures précises de structures d'objets,
- les microscopes à contraste interférentiel différentiel qui permet une visualisation appréciée des objets avec un dédoublement inférieur à la limite de résolution de l'objectif. Ils donnent des images avec un pseudo relief typique du procédé.
La technique de contraste interférentiel la plus répandue est celle du contraste interférentiel différentiel (CID, DIC des anglophones), plus particulièrement le contraste interférentiel selon Nomarski (CIN, NIC des anglophones). C'est à ce dernier que correspond en langage courant le terme de « microscope à contraste interférentiel ».