מיקרוסקופ כוח אטומי
ויקיפדיה האנציקלופדיה encyclopedia
מיקרוסקופ כוח אטומי (באנגלית: (Atomic Force Microscope (AFM) הוא מיקרוסקופ בעל רזולוציה גבוהה במיוחד. הרזולוציה שלו יכולה להגיע עד לאנגסטרם בודד. מיקרוסקופ הכוח האטומי הראשון הומצא בשנת 1986, והוא משמש מאז ככלי יסודי בחקר החומר בסקאלות הננומטריות, למטרות דימות ומדידה. מיקרוסקופ זה יעיל במיוחד לחקירת פני שטח של חומרים.
יש לשכתב ערך זה. הסיבה היא: תרגום מונחים לקוי וניסוח לא מדויק. | |