전자현미경
진공 상태에서 전자를 이용하여 시료를 관찰하는 현미경 / From Wikipedia, the free encyclopedia
전자현미경(電子顯微鏡)은 물체를 비출 때 빛 대신 진공상태에서 전자의 움직임을 파악하여 시료를 관찰하는 현미경이다.[1]
10만 배의 배율을 가지며, 물질의 미소 구조를 보는 데 이용한다. 투과 전자 현미경(TEM), 주사 전자 현미경(SEM), 반사 전자 현미경(reflection electron microscope, REM), 투사 주사 전자 현미경(STEM), 저전압 전자 현미경(LVEM), 저온 전자 현미경 등이 있다.